В книге рассматривается процедура оценки пространственно-частотных характеристик побочных электромагнитных излучений (ПЭМИ) средств вычислительной техники (СВТ) по результатам измерений в ближней зоне во временной области с использованием метода эквивалентного моделирования излучающей структуры и алгоритмов идентификации параметров источников информационного излучения. Представлены различные подходы к описанию электромагнитных излучений (ЭМИ) СВТ в ближней зоне. Рассматривается два метода описания детерминированных ЭМИ, а также характеристики стационарного стохастического излучения, характерного для информационного ПЭМИ СВТ. В предположении о стационарности на интервале измерения и эргодичности ПЭМИ СВТ предлагается концепция построения системы измерения ЭМИ СВТ в ближней зоне, основанная на двухточечном сканировании временных реализаций сигналов компонент электромагнитного поля в плоскости, параллельной плоскости расположения исследуемого объекта.

Автором проводится сравнительный анализ различных методов пересчёта компонент электромагнитного поля из ближней зоны в заданную точку пространства. Также рассматривается применение процедуры параметрической идентификации для локализации эффективных источников ЭМИ СВТ с целью последующего принятия мер по снижению его уровня, а также формирования более точной модели излучения СВТ.

В заключении представлены результаты экспериментальной верификации разработанной процедуры оценки пространственно-частотных характеристик ПЭМИ СВТ в ближней зоне путём сопоставления рассчитанных и измеренных пространственно-частотных характеристик излучения в дальней зоне.