Отраслевая литература
![]() |
Инженерные основы измерений нанометровой точности (пер. с англ.)Лич Р.Издательство: Интеллект
Год: 2012 Страниц: 400 Обложка: тв ISBN: 978-5-91559-119-5 Ограничение по возрасту: не указано Перевод - Заблоцкая Е.Г., Заблоцкий А.В. Научный консультант - Гавриленко В.П.
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей. |
Для завершения Вашей подписки на рассылки, пожалуйста, подтвердите ваш email в письме, которое отправлено на ваш электронный адрес.
