Всего книг: 158513, издательств: 103

Отраслевая литература

Все
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ы
Э
Ю
Я

Инженерные основы измерений нанометровой точности (пер. с англ.)

Лич Р.

Издательство: Интеллект
Год: 2012
Страниц: 400
Обложка: тв
ISBN: 978-5-91559-119-5
Ограничение по возрасту: не указано

Перевод - Заблоцкая Е.Г., Заблоцкий А.В.

Научный консультант - Гавриленко В.П.

 

 Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты  достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров  рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.

  Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Книги по Вашему запросу
Для использования функций сайта необходимо зарегистрироваться или авторизоваться
Подпишитесь на наши рассылки!
E-mail*:
ФИО:
Компания*:
Подпишитесь на наши рассылки!

Для завершения Вашей подписки на рассылки, пожалуйста, подтвердите ваш email в письме, которое отправлено на ваш электронный адрес.

логин
пароль
КАТЕГОРИЯ
НАЗВАНИЕ
АВТОР
ISBN
ИЗДАТЕЛЬСТВО
Цена от
до
Год от
до
© 2007-2026, Издательский дом «Рост». Все права защищены.
12+